單通道紫外輻照計(jì) 探頭二選一

單通道紫外輻照計(jì) 探頭二選一采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

性能特點(diǎn)

1、光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正

2、數(shù)字液晶顯示，帶背光

3、手動(dòng)/自動(dòng)量程切換

4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）

5、低電量提醒

6、自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)

7、有數(shù)字保持

8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

技術(shù)參數(shù)

• 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：有兩種選擇，一是波長(zhǎng)范圍為 320-400nm，峰值波長(zhǎng) 365nm；二是波長(zhǎng)范圍為 375-475nm，峰值波長(zhǎng) 420nm。

• 輻照度測(cè)量范圍：通常為 0.1-200000μW/cm2。

• 相對(duì)示值誤差：一般為 ±8％左右。

• 余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差：約為 10%。

• 線性誤差：通常 ±1.5%。

• 換檔誤差：一般為 ±1%。

• 短期不穩(wěn)定性：開(kāi)機(jī) 30min 后，一般為 ±1%。

• 疲勞誤差：約為 3%。

• 零值誤差（滿量程 FS）：通常為 ±1%。

• 響應(yīng)時(shí)間：較快，一般為 1 秒。

• 使用環(huán)境：溫度 0-40℃，濕度＜85％RH。

• 尺寸和重量：常見(jiàn)尺寸約為 160mm×78mm×43mm，重量約 0.2kg。

• 電源：通常使用 6F22 型 9V 積層電池一只，也可使用數(shù)據(jù)線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電（不可充電）。

• 整機(jī)功耗：較低，一般為 0.1VA。

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